DPUとSmartNICの性能検証方法
ビッグデータセンターでは、ネットワーク、ストレージ、セキュリティの各機能をサーバーCPUからSmartNICのデータ処理ユニット（DPU）にオフロードすることで、ネットワーク性能を高めるためにSmart Network Interface Cards（SmartNIC）を使用している。
サポート
著作権 © 2009-2024Teledyne LeCroy Xena ApS, Denmark
製造業者は、顧客満足度を最大化し、費用のかかるアフターセールスでのトラブルシューティングやサポートを最小限に抑えるために、品質保証（QA）テストに依存しています。QAテストの背後にある最もよく知られた推進力の1つはISO 9000規格ですが、他にも多くのものがあります。
Xena は、多様な環境条件下でストレステストを行うことで、イーサネット製品のQAテストに頻繁に使用される。
- EMC試験
- 機械試験
- 温湿度試験
- ハイポットテスト
- 砂塵試験
- 塩水噴霧試験
この形式のQAテストでは、Xena 、DUTを介して（テストチャンバー外から）イーサネット・トラフィックを生成し、期待どおりの性能を検証します。タイムスタンプや業界をリードする自動化オプションなどのその他の機能により、Xena はQAテストに最適です。
Xena品質保証テストのためのテストソリューション
幅広いテストモジュール
Xena は、10Mbpsから800Gbpsまでのすべてのイーサネット速度をテストするためのテストモジュールを取り揃えています。
当社のZ800Freya 製品ラインには、112GベースのSerDesとPAM-4による最新のイーサネット技術が含まれています。AN/LTプロトコルのテストとデバッグには、専用のZ800Freya Compact ANLT Test Applianceを提供しています。
使いやすいソフトウェア
Xenaのテスト・ソリューションには、イーサネット・トラフィックを生成し、結果を分析するための豊富な機能を備えたソフトウェアが含まれている。主なツールはXenaManagerです。
また、RFC2544、RFC2889、RFC3918、Y.1564 などの標準的なテストを実行するためのテスト・スイートや、特殊なAN/LT テストも用意されています。さらに、あらゆる OS 上で動作する Python API を備えたオープンソースのテスト自動化フレームワークであるXena OpenAutomation (XOA) など、強力なスクリプトやテスト自動化オプションも包括的に用意されています。
堅牢なシャーシの選択肢
最大12個のテストモジュールを搭載できる堅牢で拡張性の高い4UXenaBayか、1個のテストモジュールしか搭載できない小型で持ち運びが簡単な1UXenaCompactのどちらかをお選びください。
特別な価値
当社のすべてのソリューションには、3年間のSWアップデート、3年間のHW保証、製品ライフタイムの無料オンライン／メールサポート、および無料製品トレーニングからなるXena バリューパックが含まれています。
低価格のポート価格と合わせて、イーサネット・トラフィック生成および解析ソリューションのTCOを大幅に節約できます。
ホワイトペーパー
QAテストについて
112G SerDesイーサネットの電気ケーブルのテスト方法
このホワイトペーパーでは、DAC、ACC、AECのようなさまざまなケーブルタイプとともに、イコライザーとフォワードエラー訂正アルゴリズムを使用して、信号劣化をどのように防ぐことができるかを説明しています。
112G SerDes のレイヤ 1 テスト用Xena PHY の導入
112G SerDes PAM4使用時のレイヤ1機能をテストする新しい方法
112Gbps SerDes用AN/LT
AN/LTが電気的接続を介したイーサネット伝送の重要な要素であり、全体的な設置時間を短縮し、性能を最適化できることを学んでください。
112Gbps SerDesを使用した400GEのテスト
ここでは、112Gbps SerDesを使用して400GEトラフィックのシグナルインテグリティをテストする方法を紹介する。
5Gフロントホール・ネットワークのテストに関する考察
このホワイトペーパーでは、5Gフロントホール・ネットワークの展開においてイーサネットの障害テストが重要である理由を説明し、5Gフロントホール・ネットワークで機器やアプリケーションのパフォーマンスを最適化する際に特に注意が必要なプロトコルを明らかにします。
への切り替えXENA
ある中国のスイッチ・メーカーは、EMCテスト環境でさまざまなスイッチの安定性と性能をテストするために、トラフィック生成・解析ソリューションを緊急に必要としていた。しかし、その課題は、被試験デバイス（DUT）が異なる建物の異なるラボにあり、異なるフロアにあることでした。